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Thema: Neue Lösungen für die Materialmikroskopie

 
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Administrator



Anmeldung: 08.07.2001
Posts: 318

BeitragVerfasst am: 16.11.2002, 12:24
   Titel: Neue Lösungen für die Materialmikroskopie

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Carl Zeiss rückt Werkstoffe ins mikroskopische Blickfeld



RTF-Dokument

Göttingen, 06.11.2002. Carl Zeiss bietet allen Anwendern in den Werkstoffwissenschaften und der Materialanalyse zahlreiche neue Lösungen für die Mikroskopie. Der in der Biomedizin sehr erfolgreich tätige Unternehmensbereich Mikroskopie verstärkt nun sein Engagement in der Materialmikroskopie. Zahlreiche auf Materialanwendungen zugeschnittene Innovationen machen die Arbeit nicht nur leichter, sondern ermöglichen auch bessere Ergebnisse und neue Einsichten.

Das betrifft sowohl Hardware als auch Software mit innovativen Lösungen, die auf hochwertiger Optik verbunden mit neuen optisch-elektronischen Verfahren und nutzerfreundlichen Programmen basieren. Bei vielen wichtigen Applikationen nehmen die Lösungen von Carl Zeiss eine führende Stellung ein. Ein Beispiel dafür ist das innovative Verfahren DeepView. Dieser völlig neue Ansatz erlaubt es den Tiefenschärfebereich des Mikroskops in quasi Echtzeit dramatisch zu erhöhen. DeepView erlaubt neue Arbeitsweisen z.B. bei Inspektionsaufgaben.

Weitere neue Verfahren bieten für viele Anwendungen in der Indus-trie schnellere, effizientere und genauere Analysemöglichkeiten. So lassen sich z.B. Höhenunterschiede im nm-Bereich optisch darstellen und mit Hilfe von Bildverarbeitungsverfahren sehr einfach bestimmen. Die konfigurierbare AxioVision Software zur Bildbearbeitung und -analyse kann individuell und einfach auf die Bedürfnisse des Kunden eingestellt werden. Ein neuartiges DIC-Verfahren (DIC = Differentieller Interferenz Kontrast) ermöglicht es dem Anwender auf bequeme Art und Weise alle vorhandenen Objektstrukturen abzubilden, bildanalytisch auszuwerten und zu dokumentieren. Zahlreiche in Kontrast, Bildqualität, Randauflösung und Homogenität der Feldausleuchtung verbesserte Objektive bilden die Grundlage für den effizienten Einsatz in der Materialanalyse. Das Laser Scanning Mikroskop LSM 5 PASCAL kann mit neuer Software Höhenprofile von großen Proben zusammengesetzt darstellen.

Carl Zeiss stellt am 18. November 2002 der gesamten weltweiten Vertriebsmannschaft, Fachspezialisten und Händlern die neuen Materialprodukte und Systeme vor. Jeder Teilnehmer wird im Rahmen von intensiven Schulungen und Workshops die neuen Technologien bis ins Detail beherrschen lernen.


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